模塊化光時域反射計型號：ZDK-AV6415
ZDK-AV6415是*新推出的模塊化光時域反射計(OTDR)，內帶強大的計算機系統、大容量硬盤、廣泛應用于機房內光纜保護系統的在線監(jiān)測、光纖傳感系統的在線測試。尤其是與多路光開關和率檢測模塊結合可組成光纖通信系統的自動監(jiān)控系統。 主 要 點 ● 40/38dB大動態(tài)范圍 ● 1.6m短事件盲區(qū) ● 0.1m采樣分辨率、65534采樣點 ● 機內大容量數據存儲 ● 支持Bellcore GR196文件格式 ● Windows 2000或WindowsXP運行環(huán)境 ● 提供整的底層控制函數，尤其適于二次開發(fā)主 要 術 標脈寬10ns～20480ns模塊354035373532063656368332中心波長1310/1550±20nm1310/1550±20nm1310/1550±20nm1625±20nm1550/1625±20nm850/1300±30nm適用光纖類型單模單模單模單模單模多模動態(tài)范圍40/38dB37/35dB32/30dB36dB36/36dB28/32dB事件盲區(qū)*1≤1.6m≤1.6m≤2.5m≤1.6m≤1.6m≤2.5m測距量程1.6km～512km測距分辨率0.1km～32km取樣點數65534測距準確度±(1m＋取樣間隔＋測量值×0.01%)運行環(huán)境Windows2000或WindowsXP接口USB、RS232、打印、鍵盤/鼠標、以太網光輸出連接器FC/UPC(*接頭，選件)電源1：雙路直流：-48V(1A)2: 單路-48V，AC:220V±10%，50/60HZ,1.5A外形尺寸及重量機架式(2U)，長×寬×=445×260×84(mm)；重量：約5.0kg*1:脈沖寬度10ns，端面反射損耗≥40dB,25℃±2℃，典型值。